Skip Navigation Linksdomov > napredno iskanje > rezultati > izpis
Zapis SUTRS

VRSTA GRADIVAanalitična raven (sestavni del), tekstovno gradivo, tiskano
DRŽAVA IZIDASlovenija
LETO IZIDA2016
JEZIK BESEDILA/IZVIRNIKAangleški
PISAVAlatinica
DELO IMAilustracije
AVTORAhilan, A. - avtor
ODGOVORNOSTDeepa, P. - avtor
NASLOVRadiation induced multiple bit upset prediction and correction in memories using cost efficient CMC = Napoved inkorekcija s sevanjem povzročenih večbitnih napak v pomnilnikih z uporabo učinkovitih CMC kod
V PUBLIKACIJIInformacije MIDEM. - ISSN 0352-9045. - ǂLetn. ǂ46, ǂšt. ǂ4 (dec. 2016), str. 257-266.
OPOMBEBesedilo v angl. // Bibliografija: str. 265-266 // Abstract ; Izvleček
PREDMETNE OZNAKEpomnilniki // sevanje // zaščita // večbitne napake
UDK004.07

izvedba, lastnina in pravice: NUK 2010